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株式会社経営コンサル
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   電子機器の信頼性確保のための
  信頼性試験と耐用寿命予測
 
 

《開催・参加要領》

【開催日時】  令和2年3月26日(木)   午後1時30分~4時30分
【会    場】  港区立商工会館 会議室 東京都港区海岸1-4-28
【参加費用】  1名 33,000円 2名目以降 1名につき27,500円(税込み) (キャンセルは1週間前まで)
【支払方法】  申込受付後、参加証・会場図と併せて請求書を送付いたします

下記の項目で講義をすすめます

【講師】Profile

M.A信頼性技術オフィス 代表  JAXA社外検討委員
本山 晃
(もとやま あきら) 氏
 
・1977年 3月:長崎大学工学部 材料工学科卒業
・1977年 4月:松下電工㈱入社 綜合技術研究所配属
                                            ⇒ブレーカ用バイメタル周辺の熱解析やアーク放電現象の研究
・1991年 6月:綜合技術研究所 評価技術研究所 主査技師
                                        ⇒リレーの接触信頼性研究
・2003-12年  :解析センター 主査、主幹技師 ⇒電子回路搭載電子部品の信頼性研究
・2012年9月:大阪大学大学院工学研究科 招聘教員
・2014年11月:パナソニック㈱ 退職
・2015年 6月:M.A信頼性技術オフィス 設立
・2017年 9月:JAXA社外検討有識者委員
                                                                                                                                                

重点講義内容

近年、電子応用商品には小型化・省エネ化を目指して搭載部品レベルでも微細加工した部品や超薄型部品が搭載されています。
一方、微細加工や薄膜素材の積層などでパターン間や素材間の電界強度が大きくなるため市場でのトラブル増加が懸念されます。
そこで、これらのトラブルをなくすために設計段階からFMEA・FMEAや製品の信頼性試験などを用いて不良ゼロを目指した活動がなされていますが、市場トラブルがゼロになっているわけではありません。
本セミナーでは高信頼性の製品を設計・評価するために、信頼性の基礎知識から信頼性加速試験の設定の仕方、特に製品の使われる環境での耐用寿命の推定の仕方を詳細に紹介します。

 
1. 電子機器の市場におけるトラブル事例の紹介 
2. 信頼性の基礎
1)信頼性用語の解釈
2)市場での故障数の分布
3)市場での故障率や累積故障確率の分布
4)信頼性解析によく用いる故障率、累積故障確率の分布
3. 信頼性確保のための信頼性試験
1)市場での故障数の分布に対応した信頼性試験
2)初期故障に対応した信頼性試験
3)偶発故障に対応した信頼性試験
4)摩耗故障に対応した信頼性試験
4. 電子機器の耐用寿命予測
1)電子機器の累積故障確率を予測するためのシステム構成
2)寿命予測に用いる加速モデルと信頼性試験
4)その他のストレスと耐用寿命の関係(湿度、電圧、温度差、歪など)
5)電子機器の耐用寿命予測のプロセス
5.質疑応答/名刺交換
                                                                                                                                                   
お問合せ電話番号 03-3501-6811
 
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